詳細介紹
PXS8-Te同軸光體視顯微鏡 適用于電子線路板、芯片封裝、珠寶鑒定、研相礦本分析、微小密零件品質控制、裝配、*、銀行痕跡對比、教學示范、臨床手術樣本、農業選種,紡織品檢驗、養殖業品種優選、病理分析。
PXS8-Te同軸光體視顯微鏡 特點:
PXS8-Te來自美的,目前內僅有的高倍立體顯微鏡,我們采用和外同步的同軸光技術,以滿足對透明封裝后的芯片特殊檢測標準的使用要求。
品質優良的光學系統使圖像更明亮,即使長時間觀測眼睛也不會疲勞。
粗微動的調焦應用在高倍體視上,使高倍調焦變得更加。
多種支架的選配,總能滿足復雜工位的操作要求。
還有各種光譜光源的配合,幫助解決碰到的困難。
PXS8-Te同軸光體視顯微鏡 主要技術參數
鏡筒:雙目,45度傾斜
高眼點大視野目鏡:PLAN10X/20 mm
物鏡:0.9X-7.4X
變倍比:1:8.2
總放大倍數:9-74X
調焦:粗微動調焦,粗動立桿高度300mm,升降范圍105mm
工作距離:102mm
光源:同軸光.
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